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真空镀膜系统及配套

热法原子层沉积系统(TALD)

来源:本站     时间:2025-09-24    


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热法原子层沉积(TALD)适用于钙钛矿薄膜制备,占地小,可兼容各类洁净室要求的系统,



技术参数:
基片尺寸:4英寸、6英寸;
加热温度:25℃~350℃;
温度均匀性:±1℃;
前体温度范围:从室温至150℃,±2℃;可选择加热套;
前驱体数:一次同时可处理多达 5 个 ALD 前体源;
PLC 控制系统:7英寸16 位彩色触摸屏HMI控制;
模拟压力控制器:用于快速压力检测和脉冲监测
样品上载:将样品夹具从边上拉出即可;
压力控制装置:压力控制范围从0.1~1.5Torr
两个氧化剂/还原剂源,如水,氧气或氨气;
在样品上没有大气污染物,因为在沉积区的附近或上游处无 Elestamor O 型圈出现;
氧化铝催化剂处理能力:6-10 次/分钟或高达 1.2 纳米/ 分钟(同类最佳)
高纵横比沉积,具有良好的共形性
曝光控制,用于在 3D 结构上实现所需的共形性;
预置有经验证过的 3D 和 2D 沉积的优化配方;
简单便捷的系统维护及安全联锁;


目前可以沉积的材料包括:
1)氧化物: Al2O3, TiO2, Ta2O5, ZrO2, HfO2, SnO2, ZnO, La2O3, V2O5, SiO2,...
2)氮化物: AlN, TaNx, NbN, TiN, MoN, ZrN, HfN, GaN, ...  
3)氟化物: CaF2, SrF2, ZnF2, ...
4)金属: Pt, Ru, Ir, Pd, Cu, Fe, Co, Ni, ...  
5)碳化物: TiC, NbC, TaC, ...  
6)复合结构材料: AlTiNx, AlTiOx, AlHfOx, SiO2:Al, HfSiOx, ...  
7)硫化物: ZnS, SrS, CaS, PbS, ...




热法原子层沉积系统(TALD)

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